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常見測(cè)試探針的種類和特性

測(cè)試針，用于測(cè)試線路板的一種常見的探針，表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3-10萬(wàn)次的琴鋼線制作成的高性能彈簧，根據(jù)電子測(cè)試的用途可分為三種： 1、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品； 2、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研...

標(biāo)簽：測(cè)試探針 2018-05-31

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IC芯片測(cè)試治具選擇探針需要考慮什么因素？

IC芯片的測(cè)試同ICT/FCT測(cè)試一樣，也是有治具，只不過(guò)區(qū)分開來(lái)叫IC SOCKETS，設(shè)計(jì)上也更精密，治具精準(zhǔn)度高，功能穩(wěn)定，使用的探針是非常高質(zhì)量的，那么IC SOCKETS選擇探針需要考慮哪些因素呢？ 1、探針的質(zhì)量 探針的質(zhì)量是非常重要的一點(diǎn)，現(xiàn)在國(guó)內(nèi)一些廠商也可以做半導(dǎo)體測(cè)試探針，但是工藝不達(dá)標(biāo)，做出來(lái)的產(chǎn)品非常差，通常考慮歐美進(jìn)口...

標(biāo)簽：測(cè)試探針 2018-05-31

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標(biāo)簽： 2020-03-02

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